包裝材料 微泄漏密封測試儀 托盤(pán)槽或下腔體 上海理濤

包裝材料 微泄漏密封測試儀 托盤(pán)槽或下腔體 上海理濤




托盤(pán)槽或下腔體： 

測試腔的下半部分其尺寸設計成緊密貼合供試包裝的外形,同時(shí)也要使氣體易于環(huán)繞供試包裝流動(dòng)。如果氣流不能環(huán)繞包裝流動(dòng),泄漏點(diǎn)會(huì )被堵塞。相反,測試腔和測試包裝之間的間隙越大,檢漏靈敏度越差,因為在較大的測試腔體中,來(lái)自包裝泄漏的真空衰減將會(huì )減小。



真空衰減測試系統： 

真空衰減測試系統由一個(gè)真空源和壓力傳感器組成。真空源用于在測試周期開(kāi)始時(shí)在測試腔內建立所需的真空,而一只壓力傳感器(絕壓或表壓)或與另一只壓差傳感器結合,前者用來(lái)監測真空度,后者用來(lái)監測在測試周期內壓力隨時(shí)間的變化。預期使用較高目標真空度(如+1mbar或不到+1mbar,)的測試系統,宜設計成較高的目標壓力測量精度和Z小的系統泄漏,氣體外泄可能影響測試中測量信噪比。